2024年11月18日至20日，备受瞩目的第104届中国电子展（CEF）在上海新国际博览中心盛大举行。本次展会聚焦电子信息行业的最新成果与未来趋势，吸引了众多行业内外人士的关注。南京博芯科技有限公司作为参展商之一，亮相本次展会，展示其在集成电路测试领域的最新研发成果和技术实力。

南京博芯科技有限公司位于展会核心先导基础元器件馆的2C001展位，以其卓越的产品和技术吸引了大量参观者驻足。该公司注册资金达5000万元，专注于集成电路测试系统等电测产品的研发、制造、销售与服务。其研发团队汇聚了一批具有十年以上集成电路测试系统开发与应用经验的精英，为公司产品的不断创新提供了坚实的技术支持。

展会期间，南京博芯科技有限公司展示了其主打产品——数字集成电路测试系统和边界扫描测试仪。这些产品凭借其卓越的性能和稳定的品质，得到了现场参观者的高度认可。公司秉承“客户第一、诚实守信、团结协作、创新发展”的价值观，致力于为客户提升产品品控能力与测试效率，持续为客户创造价值。

作为集成电路测试领域的佼佼者，南京博芯科技有限公司以“为集成电路产业提供最佳测试解决方案”为公司使命，积极助力集成电路产业的发展。通过参加本次展会，公司不仅展示了自身的技术实力和产品优势，还与众多行业内外的合作伙伴进行了深入交流与合作，共同探索集成电路测试技术的新未来。

此次参展，南京博芯科技有限公司不仅扩大了自身的知名度和影响力，还为推动电子信息行业的创新发展贡献了自己的力量。相信在未来的发展中，南京博芯科技有限公司将继续秉承创新发展的理念，为客户提供更加优质、高效的集成电路测试解决方案，助力中国集成电路产业的繁荣发展。